儀器簡介：
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級別,是光學(xué)儀器制造業(yè)不可缺少的儀器，也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。
用儀器途 ：
應(yīng)力儀是用來檢查透明物體內(nèi)應(yīng)力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學(xué)玻璃、光學(xué)儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應(yīng)用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標(biāo)的檢驗(yàn)方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)領(lǐng)域也有不少應(yīng)用。同時,本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。
儀器特點(diǎn)：
★ 直讀納米級光程差，無須計算。
★ 雙分視場零位檢測，靈敏度高。
★ 樣品工作臺45度自動定位。
★ 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。
★ 操作方便,可靠實(shí)。
產(chǎn)品參數(shù)：
單 色 光 波 長： 589.44nm
光 程 差 測 定范圍： ± 590 nm
度 盤 格 值：5nm
最小讀數(shù)(1/5估讀)： 1nm
儀 器 零 位 誤 差： ±2nm
波 片 讀 數(shù)重復(fù)性：1nm
光 源：20W低壓鈉燈
被 檢 樣品最大尺寸：寬度440mm；長度440mm；高度240 mm
儀 器 尺 寸 （mm）：413 ×250 ×400
